Мікрофокусне рентгенівське джерело з вторинною мішенню

к. ф.-м.н.-Дрозденко М., Інститут прикладної фізики НАН України

Відео записано під час проведення Міжнародної Технологічної зустрічі

 

Короткий опис: 

Створено модель мікрофокусного рентгенівського джерела з вторинною мішеню внаслідок використання полікапілярної (рентгенівської) оптики. Рентгенівський спектр після вторинної мішені складається з характеристичних ліній вторинної мішені, когерентно та некогерентно розсіяного гальмівного випромінювання та характеристичних ліній аноду. Тим не менш, характеристичні рентгенівські промені вторинної мішені є основною складовою спектру не лише через домінуючу вірогідність іонізації характеристичних ліній фотонами первинної мішені, а й через те, що флуоресцентний процес відбувається внаслідок взаємодії фотонів неперервного спектру, енергія яких більша за енергію краю поглинання вторинної мішені. Саме через це покращується відношення піку характеристичного випромінювання до неперервного фону спектра. 

Переваги: 

Інтенсивність рентгенівського випромінювання після вторинної мішені зменшується у 100-1000 раз через малий переріз іонізації. Без використання рентгенівської оптики вторинне джерело рентгенівського випромінювання необхідно колімувати так само, як і рентгенівський пучок перед досліджуваним зразком, що дає величезні втрати інтенсивності рентгенівського випромінювання. Тому збільшення інтенсивності є суттєвою перевагою, що дозволяє розширити область застосування. 

Області застосування: 

Розробка відноситься до рентгенофлуоресцентної спектрометрії і призначена для підвищення яскравості рентгенівського променя та надання можливості проводити мікроаналіз, картування або конфокальний аналіз рентгенофлуоресцентними спектрометрами, обладнаними вторинною мішенню, що в свою чергу дозволяє підвищити чутливість до слідових елементів. 

Контактна інформація: ipfmail@ipfcentr.sumy.ua , Тел.: +380542 222794 Факс: +380542 223760